จะซื้อ Semiconductor Material and Device Characterization ทางออนไลน์จาก Ubuy ได้อย่างไร

ซื้อสินค้า Semiconductor Material and Device Characterization ทางออนไลน์จาก Ubuy ได้ง่ายๆ. คุณเพียงแค่ต้องค้นหาสินค้า เลือกวิธีการจัดส่งของคุณในขณะที่ทำการชำระเงิน และส่งไปยังสถานที่ของคุณ

ใช้เวลานานแค่ไหนในการรับสินค้าหลังจากทำการสั่งซื้อ?

เวลาจัดส่งของผลิตภัณฑ์ที่คุณสั่งซื้อจะแตกต่างกันไปตามสิ่งที่คุณสั่งซื้อและวิธีการจัดส่งที่คุณเลือก. เวลาจัดส่งโดยประมาณจะระบุไว้ในขั้นตอนการชำระเงิน ดังนั้นโปรดอย่ากังวลขณะช้อปปิ้ง

ดูต้นฉบับ

Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)

รายการ #: 21176075

Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)

ผู้ซื้อ 85% แนะนำสินค้านี้ให้เพื่อน

รายการ #: 21176075

THB 8055

~~THB 10587~~

รายละเอียดราคา

ไม่รวมค่าจัดส่งและค่าธรรมเนียมศุลกากร ( ค่าจัดส่งและค่าธรรมเนียมศุลกากรจะคำนวณตอนชำระเงิน )

^{*สินค้าทั้งหมดจะนำเข้าจาก สหรัฐอเมริกา}

คุณประหยัดได้ถึง : 24%

สถานะสินค้า : มีสินค้า

นำเข้าจาก USA ร้านค้า

จำนวน:

เหลือสินค้าในสต็อกเพียง 1 รายการ

สั่งซื้อตอนนี้และรับสินค้าประมาณ วันพฤหัสบดี, ตุลาคม 15

การทำธุรกรรมที่ปลอดภัย

พันธมิตรด้านโลจิสติกส์ชั้นนำของเรา

Hardcover

การรับประกัน U-Care:

ยังไม่ได้เลือก

เลือกแผน

Fast
Shipping

คืนสินค้าฟรี^*

แพ็คสินค้าอย่างปลอดภัย

สินค้าแท้ 100%

ผ่านมาตรฐาน PCI DSS

ได้รับการรับรอง ISO 27001

Note: Step Down Voltage Transformer required for using electronics products of สหรัฐอเมริกา store (110-120). Recommended power converters ซื้อเลย.

รายละเอียดสินค้า

This Third Edition updates a landmark text with the latest findingsThe Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers. Not only does the Third Edition set forth all the latest measurement techniques, but it also examines new interpretations and new applications of existing techniques.Semiconductor Material and Device Characterization remains the sole text dedicated to characterization techniques for measuring semiconductor materials and devices. Coverage includes the full range of electrical and optical characterization methods, including the more specialized chemical and physical techniques. Readers familiar with the previous two editions will discover a thoroughly revised and updated Third Edition, including:Updated and revised figures and examples reflecting the most current data and information260 new references offering access to the latest research and discussions in specialized topicsNew problems and review questions at the end of each chapter to test readers' understanding of the materialIn addition, readers will find fully updated and revised sections in each chapter.Plus, two new chapters have been added:Charge-Based and Probe Characterization introduces charge-based measurement and Kelvin probes. This chapter also examines probe-based measurements, including scanning capacitance, scanning Kelvin force, scanning spreading resistance, and ballistic electron emission microscopy.Reliability and Failure Analysis examines failure times and distribution functions, and discusses electromigration, hot carriers, gate oxide integrity, negative bias temperature instability, stress-induced leakage current, and electrostatic discharge.Written by an internationally recognized authority in the field, Semiconductor Material and Device Characterization remains essential reading for graduate students as well as for professionals working in the field of semiconductor devices and materials.An Instructor's Manual presenting detailed solutions to all the problems in the book is available from the Wiley editorial department.

Publisher	Wiley-IEEE Press
Publication date	June 29, 2015
Edition	3rd
Language	English
Print length	800 pages
ISBN-10	0471739065
ISBN-13	978-0471739067
Item Weight	2.11 pounds (960 grams)
Dimensions	6.4 x 2 x 9.4 inches (16.3 x 5.1 x 23.9 cm)

ข้อมูลผลิตภัณฑ์

Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)

มีข้อสงสัย? คุยกับเรา

คำถามและคำตอบของลูกค้า

คำถาม: จะซื้อ Semiconductor Material and Device Characterization ทางออนไลน์จาก Ubuy ได้อย่างไร

คำตอบ: ซื้อสินค้า Semiconductor Material and Device Characterization ทางออนไลน์จาก Ubuy ได้ง่ายๆ. คุณเพียงแค่ต้องค้นหาสินค้า เลือกวิธีการจัดส่งของคุณในขณะที่ทำการชำระเงิน และส่งไปยังสถานที่ของคุณ
คำถาม: Semiconductor Material and Device Characterization มีให้ช็อปออนไลน์ใน Thailand หรือไม่

คำตอบ: ใช่ ที่ Ubuy Thailand ผลิตภัณฑ์นี้มีให้คุณเลือกซื้อในราคาที่เหมาะสม. Semiconductor Material and Device Characterization ไม่มีให้บริการในพื้นที่ แต่คุณสามารถไว้วางใจเราด้วยบริการจัดส่งด่วนของเรา
คำถาม: ใช้เวลานานแค่ไหนในการรับสินค้าหลังจากทำการสั่งซื้อ?

คำตอบ: เวลาจัดส่งของผลิตภัณฑ์ที่คุณสั่งซื้อจะแตกต่างกันไปตามสิ่งที่คุณสั่งซื้อและวิธีการจัดส่งที่คุณเลือก. เวลาจัดส่งโดยประมาณจะระบุไว้ในขั้นตอนการชำระเงิน ดังนั้นโปรดอย่ากังวลขณะช้อปปิ้ง

Semiconductors Editorial Review

"Semiconductor Material and Device Characterization" is a highly recommended reference book for professionals working in the field of semiconductor material and device. It is an incredible resource for engineers and materials scientists in need of a comprehensive guide. The book assumes a working knowledge of semiconductor physics, which is essential for getting the most out of the text. It is well-referenced and provides a thorough explanation of the principles behind various characterization techniques. Additionally, the book includes original references for those seeking more detailed information. Although primarily targeted at lab use, many readers have found this book valuable enough to include it in their personal libraries. Overall, "Semiconductor Material and Device Characterization" is Considered a must-have resource for anyone working in the semiconductor field.

ความคิดเห็นและคะแนนจากลูกค้า

4.6

32 การให้คะแนนของลูกค้า

5 ดาว

86%
4 ดาว

7%
3 ดาว

0%
2 ดาว

0%
1 ดาว

7%

แบ่งปันความคิดของคุณกับลูกค้าท่านอื่น

แชร์ความคิดของคุณกับลูกค้ารายอื่น

ข้อดี

Comprehensive and detailed guide for semiconductor material and device characterization
Well-referenced with explanations of underlying principles
Valuable resource for professionals in the field

ข้อเสีย

Assumes a working knowledge of semiconductor physics, which may be challenging for beginners

ประวัติราคาสินค้า

ข้อมูลสำคัญ

ข้อจำกัด: สำหรับสินค้าที่จัดส่งระหว่างประเทศ โปรดทราบว่าการรับประกันจากผู้ผลิตอาจไม่มีผลบังคับใช้ บริการหลังการขายจากผู้ผลิตอาจไม่สามารถใช้งานได้ คู่มือผลิตภัณฑ์ คำแนะนำการใช้งาน และคำเตือนด้านความปลอดภัยอาจไม่ได้จัดทำเป็นภาษาของประเทศปลายทาง สินค้า (รวมถึงเอกสารประกอบ) อาจไม่ได้ออกแบบให้สอดคล้องกับมาตรฐาน ข้อกำหนด และข้อบังคับด้านฉลากของประเทศปลายทาง และสินค้าอาจไม่สอดคล้องกับแรงดันไฟฟ้าและมาตรฐานทางไฟฟ้าอื่น ๆ ของประเทศปลายทาง (ซึ่งอาจต้องใช้ปลั๊กแปลงไฟหรือเครื่องแปลงแรงดันไฟฟ้าตามความเหมาะสม) ผู้รับสินค้ามีหน้าที่รับผิดชอบในการตรวจสอบว่าสินค้าดังกล่าวสามารถนำเข้าประเทศปลายทางได้อย่างถูกต้องตามกฎหมาย เมื่อสั่งซื้อสินค้าจาก Ubuy หรือบริษัทในเครือ ผู้รับสินค้าจะถือเป็นผู้นำเข้าตามกฎหมาย (Importer of Record) และต้องปฏิบัติตามกฎหมายและข้อบังคับทั้งหมดของประเทศปลายทาง
ผลิตภัณฑ์บางรายการใน Ubuy ไม่ได้มีไว้เพื่อขาย เนื่องจาก Ubuy เป็นเครื่องมือค้นหาระดับโลก ผลิตภัณฑ์อยู่ภายใต้กฎระเบียบด้าน การส่งออก/การค้า

THB 8055

~~THB 10587~~

สั่งซื้อตอนนี้และรับสินค้าประมาณ วันพฤหัสบดี, ตุลาคม 15

จำนวน:

เหลือสินค้าในสต็อกเพียง 1 รายการ

การทำธุรกรรมที่ปลอดภัย

ได้รับการรับรอง PCI DSS และ ISO 27001:2022 พร้อมการชำระเงินแบบเข้ารหัสและการคุ้มครองผู้ซื้อเต็มรูปแบบทุกคำสั่งซื้อ

พันธมิตรด้านโลจิสติกส์ชั้นนำของเรา

การจัดส่งข้ามพรมแดนที่เร็วที่สุด

การรับประกันจาก Ubuy

ช้อปสบายใจไร้กังวล ด้วยสินค้าของแท้ 100% ระบบชำระเงินปลอดภัยได้มาตรฐาน PCI DSS การปกป้องข้อมูลด้วยมาตรฐาน ISO 27001 การจัดส่งข้ามพรมแดนที่รวดเร็วที่สุด คืนสินค้าฟรี และบรรจุภัณฑ์ที่ปลอดภัยในทุกคำสั่งซื้อ*

Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)